HS PA30-X相控阵检测仪
产品概述
这款多功能PA检测仪支持PA/ TFM / TOFD 及A型扫描模式，专为快速、精准地检测各类金属及特定非金属材料中的内部缺陷而设计。
功能特点
▪ 多能一体，兼容PA（TFM/PCI/PWI）、TOFD检测及A超检测功能
▪ 检测界面数据可视化，检测速度更快
▪ 仪器检测简单，相控阵晶片自动校准
▪ 为A/B/C/D/S/L/3D多视图角度显示检测结果，判断缺陷更简单
▪ 检测界面数据可视化，检测速度更快
▪ 仪器检测简单，相控阵晶片自动校准
▪ 为A/B/C/D/S/L/3D多视图角度显示检测结果，判断缺陷更简单
技术参数
| 参数分类 | 参数名称 | 参数值 |
| 发射/接收通道 | 通道配置 | 相控阵超声通道 64/128 路（一发一收）；A 扫描通道为 8 路衍射时差法（4 组收发对） |
| 发射单元 | 激励脉冲电压 | 相控阵通道 50V~100V；A 扫描通道 200V~350V |
| 脉冲类型 | 相控阵及 A 扫描通道均为负方波 | |
| 脉冲宽度 | 30ns~500ns 可调 | |
| 脉冲重复频率 | 相控阵通道 200Hz~20kHz 可调；A 扫描通道 100Hz~1kHz 可调 | |
| 发射延时 | 相控阵通道 0~20μs，步长 2.5ns；A 扫描通道 0~655μs，步长 10ns | |
| 接收单元 | 接收延时 | 相控阵通道 0~50μs，步长 10ns；A 扫描通道无此项 |
| 增益范围 | 相控阵通道 模拟增益 80dB（步长 0.1dB）+ 数字增益 40dB（步长 6dB）；A 扫描通道 110dB（步长 0.1dB） | |
| 系统带宽 | 相控阵通道 0.5MHz~20MHz；A 扫描通道 0.5MHz~15MHz |